产品分类导航
Waters Xevo G2-XS QTof 高分辨质谱
放大查看
Waters Xevo G2-XS QTof 高分辨质谱

Waters Xevo G2-XS QTof 高分辨质谱

更新时间:2025-09-25

价格:
品牌: 暂无
型号: 暂无
立即询盘
收藏

产品详情

产品名称: Waters Xevo G2-XS QTof 高分辨质谱
产品分类: 质谱
产品关键词: Waters Xevo G2-XS QTof 高分辨质谱
是否为生产商:
主要销售市场: 中国,北美洲,中/南美洲,西欧,东欧,大洋洲,亚洲,中东,非洲

产品描述:

详细介绍根据科学家的需求量身定制,帮助鉴定、定量和确认挑战性的复杂样品中种类多样的化合物。保证卓越性能的同时最大化提升稳定性。业界领先的分析定量灵敏度。最全面的高质量定性信息。灵活应对多变需求,简单易用,专业和非专业人士均可轻松上手保证卓越性能的同时最大化提升稳定性。样品和研究的复杂程度日趋增加,要在保持分析性能的同时获得高质量的目标组分数据则面临着更大的难度。Xevo G2-XS QTOf结合采用StepWave离子光学组件和XS碰撞室技术,保持着一如既往的良好选择性,同时带来灵敏度的显著提升。长时分析期间,关键的硬件组件可持久保持洁净,为您提供更具重现性的结果,保证实验室生产效率。分析大量样品时,可获取比以往更多、更有意义的组分信息,帮助您全面深入了解样品,制定更可靠的决策。业界领先的分析定量灵敏度在靶向定量分析中,最大的挑战莫过于在复杂基质中存在干扰的情况下检测并定量其中含量极低的目标组分。不同组分的浓度千差万别,无疑增加了分析的难度。Xevo G2-XS OTO{具备良好的灵敏度、选择性,与QuanTof技术带来的质量准确度以及卓越的动态范围和速度相结合,可实现更强大的TOf-MRM数据采集定量功能。最全面的高质量定性信息除精确的定量分析曲线之外,要充分了解样品,还依赖于详尽、全面的定性信息。MSE方法虽然简单,但功能强大,无论可检测组分在色谱上是否可分离,此方法都能够确定出精确的母离子质量数和碎片离子数据,为您带来最优质的定性信息。此外,由于该方法的无靶向性,因此可随着科学问题的发展在以后重新查询数据。自动化靶向性数据采集方法FastDDA具备快速、智能的精确质量数MS/MS功能,可用于确认已知化合物或鉴定未知化合物,适用于只有真实的MS/MS数据才符合要求的情况。灵活应对多变需求实验室对效率和产量的日益重视对分析系统提出了更高的要求,不仅需要系统具备良好的稳定性和可靠性,也应当能够灵活应对现今的各种任务才能在未来实现创新发展。简单易用,专业和非专业人士均可轻松上手Xevo G2-X QTof采用了独特的Inteistart技术,这一直观的用户界面可实现日常任务的自动化,保证了出色的可重现数据,确保所有人都可以使用系统的所有功能。Intellistart可自动执行以下基本功能:MS分辨率和校正检查轻松设置各种实验LC/MS系统定期检查持续进行系统监测

公司简介

上海人禾为客户提供各品牌实验仪器,气相/液相/色谱/质谱/光谱等设备验证维修维保的一系列技术服务,确保设备在生命周期里保持良好的使用状态,降低故障率,提高设备耐用性,提升设备使用率同时降低企业运营成本,更好的利于企业发展。
注册资本:
企业规模(人):
业务类型:
成立日期:
年销售额:
主营产品类别:

该公司其他产品

POSITRON-SYS正电子湮没检测系统
POSITRON-SYS正电子湮没检测系统
POSITRON-SYS 是一款集成先进正电子湮没技术的多功能材料表征系统,具备 正电子湮没寿命谱(PALS)与 符合多普勒展宽谱(CDBS) 双模式测量能力,为材料科学、物理化学及工程领域提供非破坏性的亚纳米级缺陷与电子结构分析功能简介:正电子湮没寿命谱(PALS)精确测量正电子在材料中的湮没寿命(~100 ps-10 ns),定量表征空位型缺陷(单空位、空位团、微孔洞)的浓度、尺寸及分布。适用于晶体非晶、聚合物、纳米材料等多种体系,分辨率达亚纳米级。符合多普勒展宽谱(CDBS)通过双探测器符合测量技术,获取高信噪比湮没光子能量展宽谱,解析材料费米能级附近的电子动量分布。可识别元素特异性缺陷(如杂质-空位复合体),实现化学环境与电子结构的高灵敏度探测。性能参数:时间分辨率:寿命测量时间分辨率≤155ps(C0-60瞬发峰,Na-22窗条件FWHM),探测器能量分辨率:寿命测量(Na-22源):≤12%(1.275MeV峰);高纯锗探测器(Co-60源):≤1.90keV(1.332MeV峰)数据采集性能:寿命测量时间采样率>5G/SPS;幅度分辨率>14位;寿命测量计数率>100cps;高纯锗探测器效率:>25%。自动化操作流程:单键操作启动全自动测量流程,系统智能配最佳参数并执行自动校准稳谱性能:实时修正长时间测量的能谱漂移,经Co-60放射源验证(1.332MeV峰),漂移率
脉冲慢正电子東流PSPB10000
脉冲慢正电子東流PSPB10000
PSPB10000脉冲慢正电子東流是一种可精确调制时间、能量和位置的正电子東流,通过电磁线圈和电场的控制,可以实现对材料近表面和界面的结构形态进行分层扫描,可以实现材料中微观缺陷态的分层测量,从而对材料表面与界面进行结构表征。从放射源产生的正电子首先通过慢化体能量降低到热能,然后通过聚束线圈实现对位置的调控,通过斩波器实现对时间的调控,通过加速电极实现对能量的调控。经过PSPB10000 调制过的正电子可以停留在样品的特定深度。产品特色:表面界面测量:可以实现对材料表面和界面的微观结构表征,通过连续改变正电子入射能量进行测量可以得到从表面到内部的材料微观结构变化表征。正电子科学平台:正电子東流可以作为正电子科学平台,通过搭配不同的样品环境与探测单元,实现对样品多条件、多参数的全方位测量表征。核心指标:束斑直径
数字化正电子湮没符合多普勒展宽谱仪DCDB3000
数字化正电子湮没符合多普勒展宽谱仪DCDB3000
产品简介:DCDB-3000是一款基于高精度数字采集卡和高能量分辨v探测器的正电子湮没符合多普勒展宽测量谱仪,通过数字化信号处理方法,简化了谱仪结构,提高了谱仪计数率,为用户提供高质量的数据以及智能化的使用体验。产品特色:峰谷比高:通过对探测器信号的前处理以及对最终符合多普勒谱的后处理,可以最大程度的去除错误事例与本底,进而提高峰谷比,延伸谱仪的测量区域。稳定性好:自动对两个探测器进行校正归一,保持两个探测器的统一性。在长时间测量过程中保持探测器的电压与峰位稳定,。易用性强:在控制界面中可以直接进行 S/W 参数以及商谱的计算。控制方便,使用简单。核心指标:高纯锗能量分辨率≤1.90keV@1.33MeV:多普勒展宽谱峰谷比>3.6x106:错误事例筛选率>90%;可计算 S/W 参数,可计算和谱、差谱、商谱。
上海人禾电子科技有限公司
注册资本不愿意公开
公司地址
上海上海市上海市宝山区呼兰路911弄11号博济智汇园6栋102A
联系人
查看联系方式
快速询盘
询盘主题
请输入询盘主题
询盘信息
请输入询盘信息
快速发送询盘
× 大图预览
2006-2026 上海博华国际展览有限公司版权所有(保留一切权利) 沪ICP备05034851号-57